Influence of light intensity on the lifetime of carriers in silicon investigated by a photoacoustic method

Bychto, Leszek; Maliński, M.

doi:10.1515/oere-2016-0008

Cited by 1 publication

(1 citation statement)

References 17 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Order By: Relevance

“…Paper [3] presents the influence of light intensity on the lifetime of carriers in n-type silicon investigated by a PA method. The character of the dependence was interpreted in terms of Shockley Read Hall (SRH) statistics.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Experimental investigations of the dependence of the lifetime of the optically generated minority carriers in n-type silicon on the intensity of its illumination

Bychto

Maliński

2017

ELECTROTECHNICAL REVIEW

View full text Add to dashboard Cite

This paper presents experimental and theoretical dependences of the lifetime of minority carriers in n-type silicon on the intensity of its illumination. The experimental characteristics have been interpreted theoretically in the frame of Shockley Read Hall (SRH) statistics. The lifetimes of minority carriers for a low intensity of illumination were measured with the Surface Photovoltage (SPV) method while for the high intensity a Modulated Free Carrier Absorption (MFCA) method was applied. The obtained results clearly show that the experimentally obtained lifetimes of carriers can be compared only for the same conditions of illumination of the sample.Streszczenie. Praca przedstawia doświadczalne i teoretyczne zależności czasu życia nośników mniejszościowych w krzemie typu n od natężenia światła. Charakterystyki doświadczalne zostały zinterpretowane teoretycznie w modelu Shockley Read Hall (SRH). Czasy życia nośników dla małych natężeń światła oświetlajacch próbkębyły mierzone metodą SPV podczas gdy dla dużych natężeń światła wykorzystano metodę Modulacji Absorpcji Światła na Swobodnych Nośnikach (MFCA). Uzyskane rezutaty jasno pokazują, że czasy życia uzyskane eksperymentalnie mogą być porównywane tylko dla tych samych warunków oświetlanie próbek. (Badania eksperymentalne zależności czasu życia optycznie generowanych nośników mniejszościowych w krzemie typu n od natężenia światła).

show abstract

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%