Influence of Dislocations on the Cyclotron Resonance Absorption in Tellurium

Abstract

I n tellurium a-glide dislocation systems are activated by uniaxial compression experiments at T = 300 and 77 K. The dislocation substructures, chosen with respect to their elastic strain field, are characterized by etch pit counting and X-ray topography. Optical transmission experiments performed under cyclotron resonance conditions in the submillimeter wavelength region (A = 337 and 311 pm) show a considerable effect of the dislocation density and configuration on the observed spectra. The appearance of CRI mode absorption is accounted by a change of the dielectric tensor in the basal plane, as caused by the dislocation strain field.In Tellur werden Systeme von a-Stufenversetzungen durch gerichtete Verformung bei T = 300 und 77 K erzeugt. Die Unterstruktur der Versetzungen wird im Hinblick auf ihr elastisches Spannungsfeld ausgewahlt und charakterisiert durch Ziihlung von atzfiguren und Rontgenstrahltopographie. Messungen der optischen Transmission werden unter Zyklotronresonanzbedingungen im Bereich von Submillimeterwellen (A = 337 und 311 pm) ausgefuhrt. Sie zeigen einen betrachtlichen Effekt der Dichte und Anordnung der Versetzungen auf die beobachteten Spektren. Das Auftreten einer Absorption in der inaktiven Mode (CRI) wird erklart durch eine Anderung des dielektrischen Tensors verursacht durch das Spannungsfeld der Versetzungen.