Методами ядерных реакций, эллипсометрии и растровой электронной микроскопии исследованы характеристики плёнок на вольфраме, полученных при боронизации стенок в токамаке ASDEX Upgrade. Также изучено их влияние на захват водорода в вольфрамовую подложку при облучении потоками дейтериевой плазмы с параметрами, близкими к ожидаемым в ИТЭР. Структура бороводородных плёнок различна для разных случаев боронизации. Метод ядерных реакций показывает, что для боронизованной мишени проникновение водорода в вольфрам затруднено даже после полного распыления плёнки бора дейтронами. Это происходит за счёт того, что бор, присутствующий в верхних слоях вольфрамовой подложки, подавляет проникновение водорода.Ключевые слова: вольфрам, захват, дейтерий, метод ядерных реакций, эллипсометрия, боронизация. Structure of boronized films was studied by nuclear reaction analysis (NRA), ellipsometry and electron microscopy. The Influence of these films on the deuterium retention in tungsten substrate was studied by nuclear reaction analysis. D irradiation was performed at plasma conditions relevant to ITER. NRA shows that boron prevents hydrogen diffusion in tungsten even when the film is completely sputtered as confirmed by ellipsometry measurements. This happens due to boron remaining in the near-surface layer of the substrate.