Influence of Antidots on Transport Characteristics of HTSC

Moroz, Anna; Maksimova, A. N.; Kashurnikov, V. A.; Rudnev, I. A.

doi:10.1109/tasc.2018.2813372

Cited by 22 publications

(19 citation statements)

References 16 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…Расчеты выполнены методом Монте-Карло в рамках модели слоистого ВТСП [12][13][14][15][16][17][18][19]. Вихревая нить в слоистом ВТСП может быть представлена в виде стопки плоских взаимодействующих вихрей (пэнкейков).…”

Section: метод расчетаunclassified

“…В нашей работе в модель в качестве центров пиннинга вводятся субмикронные отверстия, образующие периодическую решетку. Как уже отмечалось, попытка ввести в модель такие центры пиннинга была предпринята в работе [18], где вихри могли закрепляться на краях отверстия. Расчеты, выполненные в [18], показывали монотонный рост критического тока с увеличением радиуса отверстия (при фиксированном расстоянии между центрами отверстий), что не соответствовало эксперименту.…”

Section: метод расчетаunclassified

“…Как уже отмечалось, попытка ввести в модель такие центры пиннинга была предпринята в работе [18], где вихри могли закрепляться на краях отверстия. Расчеты, выполненные в [18], показывали монотонный рост критического тока с увеличением радиуса отверстия (при фиксированном расстоянии между центрами отверстий), что не соответствовало эксперименту. Однако, когда радиус отверстия превосходит глубину проникновения магнитного поля λ в сверхпроводник (характерный размер вихря по круговым токам, его формирующим), становится возможным захват магнитного потока в отверстии, так что в отверстии оказывается отличное от нуля магнитное поле.…”

Section: метод расчетаunclassified

“…Особенности метода не позволяют моделировать образцы, размерами превосходящие несколько µm, но, поскольку исследуемая система является частью объемного сверхпроводника, то, усредняя результаты идентичных расчетов, можно получить средний отклик всего образца. В работе [18] с использованием метода Монте-Карло было проведено моделирование критиче-66 А.Н. Максимова, В.А.…”

Section: Introductionunclassified

See 3 more Smart Citations

Механизм Формирования Критического Тока Высокотемпературных Сверхпроводников, Содержащих Сквозные Микроскопические Дефекты

Максимова¹,

Кашурников²,

Мороз³

et al. 2021

Физика Твердого Тела

View full text Add to dashboard Cite

The critical current of a model high-temperature superconductor (HTSC) with defects in the form of through holes (antidots) with a characteristic size greater than or of the order of the penetration depth of the magnetic field is calculated. To do this, the subprocesses equivalent to the trapping of the magnetic flux by the hole and the creation of a vortex at the edge of the hole are introduced into the model of layered HTSC. It is shown that accounting for these subprocesses leads to the appearance of a physical mechanism that allows us to correctly describe the non-monotonic dependence of the critical current on the characteristic size of the antidot, similar to that observed in the experiment. Calculations were performed for a pure superconductor and a superconductor containing nanoscale pinning centers. It is shown that the presence of nanoscale pinning centers along with antipoints does not change the qualitative picture of the influence of the antidot radius on the pinning character of the magnetic flux and the behavior of the critical current in the HTSC.

show abstract

Section: метод расчетаunclassified

Section: Introductionunclassified

See 2 more Smart Citations

Механизм Формирования Критического Тока Высокотемпературных Сверхпроводников, Содержащих Сквозные Микроскопические Дефекты

Максимова¹,

Кашурников²,

Мороз³

et al. 2021

Физика Твердого Тела

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…Recently, improvements to J c have also been found using "large" (2 μm-3 μm) ADs. [11][12][13][14] In this case, optical lithography may be used, which is technologically a much faster and cheaper process than EBL. The main concern with large ADs is that patterned films occasionally led to degradation.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Enhancing the critical current of YBa2Cu3O7 thin films by substrate nanoengineering

Jones

Lam

et al. 2018

Journal of Applied Physics

View full text Add to dashboard Cite

The critical current density, J c, can be increased by introducing defects throughout YBa 2Cu 3O 7 superconducting thin films. We propose a new approach of substrate nanoengineering to produce wellcontrolled defects. LaAlO 3 substrates have been ion-etched with different 34 nm deep patterns prior to the deposition of the films. An annealing step at 1000 °C after substrate etching has been undertaken to negate the Ar-ion damage to the surface. The J c of the so-prepared samples measured at different temperatures has been compared to thin films deposited on plain substrates at the same time. In general, an increase in J c is observed across all temperatures and fields as a result of both patterning and annealing. In particular, at zero field and 85 K, the largest enhancement of > 40% has been recorded for circle and triangle patterns. This new substrate nanoengineering technique is very promising for flux trapping of superconducting devices, particularly because an increase to critical current (I c) also occurs. Further optimization of depth, size, and shape of the patterns is expected to produce further improvements to J c.

show abstract