An investigation is made of the dependence of zero magnetic field resistivity as well as low m;ignetic field Hall and magnetoresistance coefficients of undoped as well as Te-, Sn-, and Ga-doped polycrystalline bismuth films on thickness and doping concentration in the temperature interval from 100 to 300 K. The films are deposited onto amorphous substrates by means of sirnultancous thermal cvaporation from two different sources for the host and dopant material, respectively. Doping does not alter the structure of the films significantly. The galvanomagnetic measurements are carried out using van der Pauw's technique with the magnetic ficld perpendicular to the film plane. Der spezifische Widerstand in Abwesenheit eines Magnetfeldes sowie die Hall-und Magnetowidcrstandskoeffizient,en im schwachen Magnetfeld von undotierten sowie von Te-, Sn-und Ga-dotierten polylrristallinen Wismutschichten werden in Abhangigkeit von der Schichtdicke und der Dotierungskonzentration bei Temperaturen zwischen 100 und 300 K untersucht. Die Beschichtung rrfolgt auf amorphen Substraten durch gleichzeitige thermische Verdampfung aus zwri unterschiedlichen Quellen ftir das Wirtsbzw. Dotierungsmaterinl. Die Dotierung veriindert die Schic1it.st,ruktur nicht signifikant. Die galvnnoniagnctischen Messungen werden mit der van der Panwschrn Methode in einem senkrecht zur Schichtebcne gerichteten Magnetfeld durchgefuhrt. Helmholtzweg 4, DDR-6900 Jena, GDR.