2010
DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2009.12.026
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Indium tin oxide thin films for silicon-based electro-luminescence devices prepared by electron beam evaporation method

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3
2

Citation Types

1
9
0
7

Year Published

2011
2011
2023
2023

Publication Types

Select...
5
1

Relationship

0
6

Authors

Journals

citations
Cited by 31 publications
(17 citation statements)
references
References 21 publications
1
9
0
7
Order By: Relevance
“…1). Как показано в работах [1,8,9,11,13,14], это связано с тем, что нанесенные на ненагретые подложки пленки аморфны, и только отжиг при температуре выше 200 °С приводил к кристалли-зации пленок, сопровождавшейся резким падением их электрического сопротивления. При дальнейшем повышении температуры отжига до 300 °С проис-ходит рост размеров кристаллитов и увеличение концентрации вакансий в пленке, расположенных по границам зерен [8].…”
Section: результаты и их обсуждениеunclassified
See 4 more Smart Citations
“…1). Как показано в работах [1,8,9,11,13,14], это связано с тем, что нанесенные на ненагретые подложки пленки аморфны, и только отжиг при температуре выше 200 °С приводил к кристалли-зации пленок, сопровождавшейся резким падением их электрического сопротивления. При дальнейшем повышении температуры отжига до 300 °С проис-ходит рост размеров кристаллитов и увеличение концентрации вакансий в пленке, расположенных по границам зерен [8].…”
Section: результаты и их обсуждениеunclassified
“…2, кривая 1). Таким образом, оптическое пропускание образцов пленок ITO после отжига в воздухе растет с ростом температуры отжига, что соответствует результатам работ [9,13,14].…”
Section: результаты и их обсуждениеunclassified
See 3 more Smart Citations