Impact of improved cook stove intervention on reduction of exposure to PM2.5 among rural women and children in Andhra Pradesh, India

Actitudes docentes sobre educación inclusiva

“…En tal sentido, a diferencia del modelo médico, que enfatiza la necesidad de rehabilitar a la persona con discapacidad, el modelo social se enfoca en la rehabilitación de la sociedad y sus prácticas excluyentes. En esa medida, la problemática de la inclusión no radica en las personas con discapacidad ni en sus condiciones motoras, sensoriales, mentales o intelectuales, sino más bien el problema deriva de una sociedad insensible, excluyente y que antagoniza la diversidad (Blanco, 2006;Cook & Rao, 2018).…”

“…En esta medida, la educación inclusiva no es de uso privativo para las personas con discapacidad. Por el contrario, es un proceso continuo y complejo que toma en cuenta las necesidades de todo el estudiantado con el fin de que sea el contexto el que se adapte a ellos y no a la inversa (Black et al, 2014;Cook & Rao, 2018).…”

“…La inclusión educativa en el DUA parte de la noción de que la diversidad es una característica intrínseca del estudiantado. Por tanto, la flexibilidad curricular es tomada en cuenta de forma preventiva y no como una medida de corrección que únicamente aplique para un grupo reducido de estudiantes (Cook & Rao, 2018). De esta forma, el docente primero piensa en las necesidades de los estudiantes dentro del aula y después va al currículo.…”

An insight on optical metrology in manufacturing

“…To distinguish it from the 2-θ scatterometer, we call this type of angular scatterometer a scattering-angle-resolved scatterometer (The 2-θ scatterometer can be regarded as an incidenceangle-resolved scatterometer). To ensure that there is enough scattering information available for accurate profile reconstruction of short-pitch structures, light sources with short illumination wavelengths, such as an extreme ultraviolet (EUV) light source [236][237][238][239] or an x-ray light source [240][241][242][243], can be employed in scattering-angle-resolved scatterometers.…”

“…In response to these challenges, future trends for optical scatterometry include the extension of illumination wavelengths to short or ultra-short ranges, such as EUV and x-rays [236][237][238][239][240][241][242][243], and making full use of light polarization [253,254] to improve measurement sensitivity. Also, since there is no single technique that can fully fulfill the measurement requirements (such as resolution, speed, precision) of a full set of structural parameters of a complex device, the combination or integration of multiple techniques, also known as hybrid or combined metrology, is an important trend that will extend the capability of current techniques [290,291].…”