IDDQ data analysis using current signature

Li, J.C.M.; McCluskey, E.J.

doi:10.1109/iddq.1998.730730

Cited by 12 publications

(2 citation statements)

References 16 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…Current signatures are useful for performing fault diagnosis as well [Li and McCluskey 1998;Lavo et al 1999]. A lot of information about the circuit (circuit personality) can be gleaned from the analysis of current signatures [Gattiker et al 1999].…”

Section: Ddq Variance Reduction/data Analysis Techniquesmentioning

confidence: 99%

I_DDX-based test methods

Sabade

Walker

2004

ACM Trans. Des. Autom. Electron. Syst.

View full text Add to dashboard Cite

Supply current measurement-based test is a valuable defect-based test method for semiconductor chips. Both static leakage current (I DDQ ) and transient current (I DDT ) based tests have the capability of detecting unique defects that improve the fault detection capacity of a test suite. Collectively these test methods are known as I DDX tests. However, due to advances in the semiconductor manufacturing process, the future of these test methods is uncertain. This paper presents a survey of the research reported in the literature to extend the use of I DDX tests to deep sub-micron (DSM) technologies.

show abstract

Section: Ddq Variance Reduction/data Analysis Techniquesmentioning

confidence: 99%

I_DDX-based test methods

Sabade

Walker

2004

ACM Trans. Des. Autom. Electron. Syst.

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…Τα φίλτρα ελαττωμάτων βρίσκουν εφαρμογή στο πεδίο των ψηφιακών κυκλωμάτων όπου, για παράδειγμα, η τεχνική IDDQ μπορεί να εκμεταλλεύεται τη χρήση είτε μονοδιάστατων, είτε πολυδιάστατων φίλτρων, τα οποία βασίζονται στη μέτρηση μίας τιμής του ρεύματος ηρεμίας (quiescence current) ή πολλαπλών τιμών του που προκύπτουν από την εφαρμογή διαφορετικών διανυσμάτων ελέγχου (test vectors), αντίστοιχα [40].…”

Section: περιγραφήunclassified

Τεχνικές Ελέγχου Ορθής Λειτουργίας Και Διόρθωσης Επιδόσεων Τηλεπικοινωνιακών Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων Υψηλών Συχνοτήτων

Liaperdos¹,

Λιαπέρδος²

View full text Add to dashboard Cite

Στη διατριβή αυτή παρουσιάζονται τεχνικές ελέγχου ορθής λειτουργίας και διόρθωσης επιδόσεων κατάλληλες για αναλογικά ολοκληρωμένα κυκλώματα RF.Συγκεκριμένα στοιχεία που έχουν επίδραση στις επιδόσεις των κυκλωμάτων σχεδιάζονται ώστε να μπορούν να ρυθμίζονται ψηφιακά, παρέχοντας τη δυνατότητα μεταβολής των επιδόσεων γύρω από τις τιμές που αυτές εμφανίζουν αμέσως μετά τη διαδικασία κατασκευής, μέσω ενός συνόλου διακριτών καταστάσεων λειτουργίας. Ένα σύνολο βέλτιστα επιλεγμένων παρατηρήσιμων μεγεθών χρησιμοποιείται για την ανάπτυξη μοντέλων πρόγνωσης των χαρακτηριστικών επίδοσης σε κάθε κατάσταση λειτουργίας. Στη φάση του ελέγχου, λαμβάνονται μετρήσεις από ένα υποσύνολο των καταστάσεων του κυκλώματος. Η επεξεργασία των παρατηρήσιμων μεγεθών ελέγχου επιτρέπει την ανίχνευση ελαττωμάτων με την αξιοποίηση ενός διευρυμένου υπερσυνόλου των παρατηρήσιμων μεγεθών. Επιπλέον, οι προγνώσεις των επιδόσεων χρησιμοποιούνται για την εξέταση της συμμόρφωσης του κυκλώματος προς τις προδιαγραφές, καθώς και για τη διόρθωση της συμπεριφοράς του, με την εξαναγκασμένη μετάπτωσή του στην κατάσταση στην οποία όλα τα χαρακτηριστικά επίδοσης αποκαθίστανται σε αποδεκτές τιμές. Προκειμένου να αντιμετωπισθεί το πρόβλημα της προσβασιμότητας στα παρατηρήσιμα μεγέθη ελέγχου, προτείνεται ενσωματωμένη τεχνική συλλογής μετρήσεων συνεχών τάσεων, οι οποίες χρησιμεύουν στη διόρθωση των επιδόσεων μικτών RF. Οι μετρήσεις πραγματοποιούνται με τη βοήθεια ενός μετατροπέα αναλογικού σε ψηφιακό, ο οποίος αποτελείται από ταλαντωτή δακτυλίου και απαριθμητή. Προτείνεται, επιπλέον, μέθοδος για την ελαχιστοποίηση της αβεβαιότητας που υπεισέρχεται στο ίδιο το σύστημα μέτρησης, εξαιτίας κατασκευαστικών διακυμάνσεων και ανομοιομορφιών των διατάξεων.Διερευνάται, επίσης, η εφαρμογή αλγορίθμων επιλογής με σκοπό την μείωση του αριθμού των παρατηρήσιμων μεγεθών που απαιτούνται για τη διατήρηση ανεκτής ακρίβειας εναλλακτικού ελέγχου, μέσω μιας διαδικασίας βελτιστοποίησης η οποία οδηγεί σε μείωση του κόστους ελέγχου με τον περιορισμό της πολυπλοκότητας και της χρονικής διάρκειας διεξαγωγής του.Η αποδοτικότητα των προτεινόμενων μεθόδων επιβεβαιώνεται με την εφαρμογή τους στις διαδικασίες ελέγχου ορθής λειτουργίας και διόρθωσης των επιδόσεων ενός τυπικού μίκτη RF τεχνολογίας 0.18μm CMOS, από τον οποίο λαμβάνονται αποτελέσματα προσομοιώσεων που αξιολογούνται και συγκρίνονται με αντίστοιχες συμβατικές τεχνικές.

show abstract

Improved SRAM failure diagnosis for process monitoring via current signature analysis

Schienle

Zanon

Schmitt‐Landsiedel

1999

Microelectronics Reliability

View full text Add to dashboard Cite

IDDQ data analysis using current signature

Abstract: The goals of this paper are (1) to improve the effectiveness of IDDQ testing,and (2)

Cited by 12 publications

References 16 publications

I_DDX-based test methods

I_DDX-based test methods

Τεχνικές Ελέγχου Ορθής Λειτουργίας Και Διόρθωσης Επιδόσεων Τηλεπικοινωνιακών Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων Υψηλών Συχνοτήτων

Improved SRAM failure diagnosis for process monitoring via current signature analysis

Contact Info

Product

Resources

About

IDDQ data analysis using current signature

Abstract: The goals of this paper are (1) to improve the effectiveness of IDDQ testing,and (2)

Cited by 12 publications

References 16 publications

IDDX-based test methods

IDDX-based test methods

Τεχνικές Ελέγχου Ορθής Λειτουργίας Και Διόρθωσης Επιδόσεων Τηλεπικοινωνιακών Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων Υψηλών Συχνοτήτων

Improved SRAM failure diagnosis for process monitoring via current signature analysis

Contact Info

Product

Resources

About

I_DDX-based test methods

I_DDX-based test methods