2015
DOI: 10.17567/dfd.13699
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Fosfor Plak Sistemlerinde Karşilaşilan Temel Sorunlar

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
5

Citation Types

0
0
0
5

Year Published

2019
2019
2019
2019

Publication Types

Select...
1

Relationship

0
1

Authors

Journals

citations
Cited by 1 publication
(5 citation statements)
references
References 14 publications
0
0
0
5
Order By: Relevance
“…Bu iĢlemler zaman kaybına neden olsa da mutlaka yapılmalıdır. 29 Sensörü tükürük ve kan ile kontaminasyondan ve ıĢıktan korumak amacıyla kullanılan koruyucu kılıflar görüntü kalitesini etkileyebilir. Bu nedenle orijinal ve plak kenarlarından taĢmayan kılıflar tercih edilmelidir.…”
Section: Cmos (Complementary Metal Oxide Semiconductors): Bu Sistemleunclassified
See 4 more Smart Citations
“…Bu iĢlemler zaman kaybına neden olsa da mutlaka yapılmalıdır. 29 Sensörü tükürük ve kan ile kontaminasyondan ve ıĢıktan korumak amacıyla kullanılan koruyucu kılıflar görüntü kalitesini etkileyebilir. Bu nedenle orijinal ve plak kenarlarından taĢmayan kılıflar tercih edilmelidir.…”
Section: Cmos (Complementary Metal Oxide Semiconductors): Bu Sistemleunclassified
“…Ayrıca fosfor plakların periapikal filmlere eĢdeğer boyutta olması ve ağız içinde görüntüleyebildiği aktif alanın CCD sensörlerden daha geniĢ olması da önemli bir avantajdır. 3,29,31 Fosfor plak sistemlerinde plaklar tarandıktan sonra görüntü elde edilir. Görüntü oluĢum süresinin direkt görüntüleme sistemleriyle kıyaslandığında daha uzun olması bu sistemlerin en önemli dezavantajı olarak kabul edilir Ayrıca fosfor plakların kullanım öncesi hazırlık gerektirmesi ve tekrarlayan kullanımlar sonucunda plakların bozulmasına bağlı görüntü kalitesindeki azalma da önemli bir dezavantajdır.…”
Section: Cmos (Complementary Metal Oxide Semiconductors): Bu Sistemleunclassified
See 3 more Smart Citations