Our system is currently under heavy load due to increased usage. We're actively working on upgrades to improve performance. Thank you for your patience.
2007
DOI: 10.1002/sia.2477
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Field penetration into amorphous‐carbon films: consequences for field‐induced electron emission

Abstract: The phenomenon of low-macroscopic-field (LMF) electron emission is sometimes exhibited by thin films of non-metallic materials. Both wide-band-gap semiconductors and hopping conductors such as amorphous carbon exhibit this phenomenon, and its origin has been under discussion for some years. This paper first uses a simple theory to discuss field penetration into hopping conductors with a high density of localised states near the charge-neutrality level. This theory is physically similar to widely used existing … Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1
1

Citation Types

0
17
0
5

Year Published

2007
2007
2021
2021

Publication Types

Select...
6
2

Relationship

0
8

Authors

Journals

citations
Cited by 24 publications
(22 citation statements)
references
References 27 publications
0
17
0
5
Order By: Relevance
“…Увеличение эмиссии, которой формально соответствует понижение РВ до порядков долей eV, до сих пор строго не объяснено. Обзор возможных теорий дан в [11], где также предложе-на теория проникновения поля в полупроводниковый материал соответствующей углеродной фазы эмиттера. В работе [10] указанный эффект объяснен резонансным туннелированием в результате размерного квантования при образовании уровней размерного квантования, сов-падающих с уровнем Ферми.…”
Section: (поступило в редакцию 7 июня 2017 г)unclassified
See 1 more Smart Citation
“…Увеличение эмиссии, которой формально соответствует понижение РВ до порядков долей eV, до сих пор строго не объяснено. Обзор возможных теорий дан в [11], где также предложе-на теория проникновения поля в полупроводниковый материал соответствующей углеродной фазы эмиттера. В работе [10] указанный эффект объяснен резонансным туннелированием в результате размерного квантования при образовании уровней размерного квантования, сов-падающих с уровнем Ферми.…”
Section: (поступило в редакцию 7 июня 2017 г)unclassified
“…Он создает изображение −q ′ = −kq в точке z ′ = c − h, которым можно ограничиться в случае большой толщины пластины (c ≫ h). Для строгого учета обоих электродов достаточно построить потенциал этих двух зарядов на основе приведенных выше формул, например (11). Этот потенциал действует в области z > c. В области z < c заряд воспринимается как его изображение q ′′ = 2εq/(ε + 1) = (1 − k)q в точке его расположения.…”
Section: метод изображений для плоского диодаunclassified
“…In numerous recent experiments, see for instance [1][2][3][4][5][6][7][8], extremely low-threshold field emission from the carbon nano-clusters was observed for electric fields (10 4 − 10 5 V/cm). This is a surprisingly strong effect, because the field initiating a noticeable emission from these materials is 2-3 orders less than the field required for the field-emission from the traditional metals and semiconductors.…”
Section: Brief Review Of Modern Experiments In the Low-threshold Fielmentioning
confidence: 99%
“…This is a surprisingly strong effect, because the field initiating a noticeable emission from these materials is 2-3 orders less than the field required for the field-emission from the traditional metals and semiconductors. Despite the obviously unusual nature of the effect, numerous authors, see for instance [6,8], have attempted to explain the low-threshold phenomenon trivially with use of the classical Fowler-Nordheim machinery, based on the enhancing of the field at the micro-protrusions. They assume that the local field F s near the emitting center is calculated as F 0 = γF 0 , where γ is the field enhancement coefficient, defined by the micro-geometry, and F 0 is the field of the equivalent flat capacitor.…”
Section: Brief Review Of Modern Experiments In the Low-threshold Fielmentioning
confidence: 99%
“…In numerous recent experiments, see for instance [1][2][3][4][5][6][7] extremely low-threshold field emission from metallic cathodes under carbon deposit was observed for electric fields (10 4 − 10 5 V /cm). This is a surprisingly strong effect, because the field initiating a noticeable emission (10 −10 − 10 −9 A) from these materials is by 2-3 orders of magnitude less than the field required for the field-emission from the traditional metals and semiconductors.…”
Section: An Example: Resonance Concepts Of the Low-threshold Field Emmentioning
confidence: 99%