The quadratic electrostrictive coefficients of KC1 containing substitutional impurities (KCI : Br-, KClo.8Bro,z, KCI,,,Br, 6 , KCI :T1+, KCl: Cd2+, and KCI : Mn2+) are determined from the stress dependence of static dielectric constants. Small changes in the capacitance of the samples under the application of uniaxial stress are measured with the aid of a bridge circuit and a lock-in amplifier. The values of the components of the electrostriction tensor of the doped systems are found to be enhanced by one to two orders of magnitude compared to those of the pure KCl crystal. The increment of the electrostrictive coefficients of KCI on doping is attributed to (i) the phenomenological description of a point defect as an anisotropic elastic dipole and the orientation of such defects; (ii) an additional deformation of the lattice arising from the reorientation of the I-V dipoles in the case of KCl containing divalent impurities.Aus der Spannungsabhangigkeit der statischen Dielektrizitatskonstanten werden die quadratischen Elektrostriktionskoeffizienten von KCl mit substitutionellen Verunreinigungen (KCI : Br-, KClo,8Bro,2, KC1,,,Bro,6, KCI: Tl', KCI: Cdz+, KC1: Mn2+) bestimmt. Kleine Anderungen in der Probenkapazitat unter einachsiger Spannung werden mit einer Briickenschaltung und lock-in-Verstarker gemessen. Die Komponenten des Elektrostriktionstensors der dotierten Systeme sind um ein bis zwei GroBenordnungen hoher als die von reinen KC1-Kristallen. Die VergroDerung der Elektrostriktionskoeffizienten von KCI durch Dotierung wird 1. der phanomenologischen Beschreibung eines Punktdefekts als anisotropen elastischen Dipol und der Orientierung eines solchen Defekts und 2. einer zusatzlichen Verformung des Gitters durch Umorientierung der I-V-Dipole im Fall von KCI mit zweiwertigen Verunreinigungen zugeschrieben.