Estudo de ordenamento multipolar elétrico em holmio por difração de raios-X

Abstract

Ao professor Carlos Giles pela orientação desta tese de doutorado.À professora Iris Torriani, pela amizade, dedicação, pelos ensinamentos e pela grande acolhida.Ao Dr. Christian Vettier, pela sugestão do tema e pelas discussões relacionadas a este trabalho de doutorado.Ao Dr. Harry Westhfall pelas discussões teóricas relacionadas aos ordenamentos multipolares e pelo desenvolvimento dos programas feitos no MATEMATICA que me ajudaram na interpretação dos dados experimentais obtidos.Ao Laboratório Nacional de Luz Sincrotron, por toda a ajuda prestada na linha de difração de raios-X, XRD2, e por todo tempo cedido para a realização das medidas.Aos meus pais e à minha irmã Dani, pela força e por me ajudaram na organização da grande quantidade de dados experimentais obtidos nesta tese de doutorado. Aos amigos Margareth Franco, José Augusto e Angela pela inspiração e força dada a este trabalho.Ao amigo Júlio pelas discussões relacionadas à teoria do tensor de susceptibilidade anisotrópico.

A formação da [Al]-magadiita, sua funcionalização e pilarização

“…Ainda, a intensidade difratada, dentre outros fatores, é dependente do número de elétrons no átomo; adicionalmente, os átomos são distribuídos no espaço de tal modo que os vários planos de uma estrutura cristalina possuem diferentes densidades de átomos ou elétrons, fazendo com que as intensidades difratadas sejam, por consequência, distintas para os diversos planos cristalinos. 173 No presente trabalho, a técnica de difração de raios-X foi utilizada com o objetivo de se verificar a cristalinidade dos materiais sintetizados, além da organização a longo alcance dos materiais lamelares. As estruturas cristalinas das amostras sintetizadas foram verificadas em um difratômetro Shimadzu XRD-7000, operando com radiação Cu (Kα= 1,5406 Å) 40 kV, 30 mA e monocromador de grafite, na região de 1,4 a 55º 2θ, numa velocidade de 2°.min -1 .…”