Electron microscopic investigations on optical oxide single crystal

Abstract

Scanning and transmission electron microscopic methods including energy dispersive X-ray spectrometry and reflection high energy electron diffraction as well, were used for the inspection of the growth, the shape-processing and the laser irradiation induced defects in pure and doped optical oxyde single crystals. Some general results will be presented and discussed in the light of theoretical predictions.Raster-und durchstrahlelektronenmikroskopische Verfahren, erganzt durch energie-dispersive Rontgenspektrometrie und hochenergetisch reflektierte Elektonenbeugung, wurden fur die uberpriifung der von dem Wachstum, den Gestaltsbearbeitungen und Laserbestrahlungen verursachten Defekte in reinen und dotierten, optischen Oxydeinkristallen angewandt. Einige allgemeine Ergebnisse werden dargestellt und im Lichte theoretischer Voraussagen diskutiert.