Ein Dielektrizitätskonstanten‐Meßplatz zur Untersuchung optischer Kristalle im Mikrowellenbereich

Abstract

Es wird ein MeBplatz zur Dielektrizitatskonstantenmessung nach dem Rrsonanzverfahren bei f = 10 GHz beschrieben. Aiiswerteformeln sowie Grenzen der MeBmethode werden angegeben. AnschlieIjend werden die MeBwerte von E' und E" verschieden behandelter optischer Kristalle angegeben.This article reports on a dielectric constant measuring apparatus which operates in the 3 cm microwave range using the method of resonance.: Evaluation formulae and limits of the method are indicated. Finally, we mill give the values t' and E" of optical crystals belonging to different treatments. EinleitungFur den Einsatz von Kristallen z. B. in elektrischen, elektro-optischen und elektroakustischen Bauelenienten inuR die Dielektrizitatskonstante (DK) dieser Kristalle uber einen weiten Prequenzbereich inoglichst noch als Funktion auaerer Parameter (Temperatur, Druck, elektrisches Peld usw.) bekannt sein. In Verbindung init anderen MeBmethoden (UV-und IR-Spektroskopie, riintgenografische Verfahren u. a.) kiinnen Messungeii der DK his Zuni Mikrowellenbereich Aufschlusse uber die Realstruktur der Kristalle liefern. Obwohl dafur Frequenzen bis zu einigen hundert kHz am besten geeignet sind (Orientierungsanteil der DK), gibt es Hinweise, da13 auch bei Mikrowellen (3 cni-Band) Effekte mel3bar sind, die von der Realstruktur beeinflulit werden (LOUDA et al.). Mit der hier beschriebenen Mikrowellenapparatur sollen sowohl unbekannte DK bestinimt als auch Realstruktureinflusse auf die DK untersucht werden.