Effect of Substrate-Induced Stresses on the Electrical and Magnetic Properties of Ultrathin La$_{0.6}$Sr$_{0.2}$Mn$_{1.2}$O$_{3}$/LaAlO$_{3}$ Films

Abstract

Досліджено магніторезистивні та резонансні властивості ультратонких плівок (2-12 нм) лантан-стронцієвих манганітів з надлишком мангану La 0,6 Sr 0,2 Mn 1,2 O 3 , виготовлених методом магнетронного напорошення на монокристалічній підкладці LaAlO 3 . Вивчено товщинну еволюцію магні-тних властивостей плівок. Методом електронного спінового резонансу показано, що плівки є феромагнітними аж до товщини 4 нм; при цьому зберігається досить висока температура Кюрі Т С . На основі аналізу магні-торезистивних та резонансних даних зроблено висновок про високий сту-пінь неоднорідності плівок, товщина яких є меншою або дорівнює 4 нм.Исследованы магниторезистивные и резонансные свойства ультратонких плёнок (2-12 нм) лантан-стронциевых манганитов с избытком марганца La 0,6 Sr 0,2 Mn 1,2 O 3 , изготовленных методом магнетронного напыления на монокристаллическую подложку LaAlO 3 . Изучена толщинная эволюция магнитных свойств плёнок. Методом электронного спинового резонанса показано, что плёнки ферромагнитны вплоть до толщины 4 нм; при этом сохраняется достаточно высокая температура Кюри Т С . На основе анализа магниторезистивных и резонансных данных сделан вывод о высокой сте-пени неоднородности плёнок, толщина которых меньше или равна 4 нм.Magnetoresistive and resonance properties of ultrathin films (2-12 nm) of lanthanum-strontium La 0.6 Sr 0.2 Mn 1.2 O 3 manganites are studied. The films were deposited on LaAlO 3 single-crystalline substrate by magnetron sputtering. Characteristic features of the evolution of magnetic properties with the decrease of film thickness are specified. The electron-spin resonance studies