“…Располагая геометрическими параметрами рельефа поверхности (полученными, например, атомносиловой микроскопией (AFM) или сканирующей тун-нельной микроскопией (STM)), применяя эту концепцию, можно описать текущее состояние поверхности и материала в целом и тенденции ее поведения при внешних воздействиях [14,15]. В предыдущих работах было отмечено, что структуры, сформированные в виде мультимасштабных Pt-решеток, можно рассматривать, как фрактальный объект, т. е. объект, обладающий самоподобием [8,10]. Известно, что основная характеристика таких структур -фрактальная размерность (D f ).…”