Dosimetria de elétrons em processos de irradiação com diodos resistentes a danos de radiação

Abstract

À minha orientadora Profa. Dra. Carmen Cecília Bueno (IPEN-CNEN/SP e PUC/SP) pela credibilidade, confiança e amizade. Sem mesmo me conhecer, abriu as portas do seu grupo de pesquisa para que eu fizesse parte e, com paciência, carinho e algumas vezes rigidez, me mostrou como lidar com as dificuldades da pesquisa e também da vida. À Profa. Dra. Josemary Angélica Corrêa Gonçalves (IPEN-CNEN/SP e PUC/SP) pela enorme disponibilidade nos momentos de dificuldade e amizade em todas as situações.

Dosimetria de altas doses de raios gama e elétrons com diodos de Si resistentes a danos de radiação

“…A perda de energia de elétrons por unidade de trajetória por emissão de radiação é dada por [30]: FIGURA 7 -Perda de energia específica em função da energia dos elétrons incidentes no Si [24,33].…”

“…Em um trabalho de doutorado, desenvolvido anteriormente em nosso grupo de pesquisas [24], observou-se que após serem irradiados com elétrons e armazenados, em temperatura ambiente no interior do laboratório, a superfície metálica dos diodos era deteriorada por uma espécie de reação envolvendo a janela de Mylar® aluminizado, responsável pela deposição de uma substância líquida viscosa e esverdeada sobre a superfície dos dispositivos. Este problema foi contornado revestindo-se a sonda dosimétrica com filme plástico de PVC por baixo do Mylar® [24].…”

“…Este problema foi contornado revestindo-se a sonda dosimétrica com filme plástico de PVC por baixo do Mylar® [24]. Além disso, observou-se durante o desenvolvimento inicial deste trabalho que, mesmo com o filme de PVC, a microsolda responsável pelo contato elétrico entre a face dos diodos e a base de alumina era desprendida de sua posição por efeito da radiação.…”

“…Com isso, os contatos elétricos eram refeitos inúmeras vezes interrompendo os processos de irradiação, como mencionado anteriormente. Para contornar este problema a solução encontrada foi revestir os diodos com a resina termorrígida preta que, como avaliado em um trabalho anterior [24], não altera a resposta dosimétrica dos diodos. FIGURA 95 -Degradação inicial da caixa acrílica utilizada para a proteção dos conectores elétricos durante os processos de irradiação com elétrons.…”

“…A possibilidade de utilização de diodos semicondutores resistentes aos danos de radiação em aplicações dosimétricas na área de processamento por radiação gama e elétrons tem sido investigada em nosso grupo de pesquisas [19,[24][25][26]. Os resultados anteriormente obtidos demonstraram que a sensibilidade (em corrente e em carga) desses dispositivos diminui com a dose acumulada decorrente da redução do comprimento de difusão dos portadores minoritários e a alteração do volume sensível dos diodos.…”