Die Eignung eines energiedispersiven Röntgenspektrometers für die Elektronenstrahl-Mikroanalyse

Abstract

Gruppe E Nr. 3299 Uberprilfung der Leistungen eimes energiedispersiven Ilontgenspektrometers an einem Hasierelekironenmikroskop und einer JJikrosonde. Eigenschaften des aufgezeichneten Rontgenspektrometers in Abhangigkeit von der Rontgenwellenlange, der Beschleunigungsspannung und dem Probenstrom. Bestimmung einiqer N achweisgrenzen. Vergleich mit dem Kristallspelctrometer. Performance characteristics of an energy-dispersive X-ray spectrometer on a scanning electron microscope and an electron microprobe. Performance test of an en?rgy-d/:spersive X-ray spectrometer on a scanning electron microscope and on an electron microprobe. Properties of the recorded X-ray spectrum as a function of the X-ray wavelength, the accelerating voltage and the specimen current. Determination of some detectability limits. Comparison with the crystal spectrometer. Aptitude aI'analyse microscopique par faisceau eIectronique d'un spectrometre energie-dispersif arayons X. Essai averifier la performance d'un epeeiromdre energie-dispersif arayons X sur un microscope electronique Ii bola-1jage et sur une microsonde. Proprietes du spectre X enregl:stre en fonction de la longueur des ondes X, du voltage d'acceteration ei du courant de l'echantillon. Determination de quelques liml:tes de detection. Comparaison avec le speciromeire aanalyser les cristaux. Sonderabdrucke sind vorn Verlag Stahleisen m. b. H., 4 DUsseldorf 1, Postfach 8229, unter Angabe der Bcstcllnummer Gruppe E Nr, 3299 zu bcziehen. Archiv Iur das Ryder, Baunujaril: Eiqnunq eines energiedispersiven Rontqenspektrometers fur die Elektronenstrahl-Mikroanalyse Eisenhuttcnwesen 42. J ahrgang Helt 9 -September 1971

Nonferrous metallurgy. Light metals. Aluminum, beryllium, titanium, and magnesium

“…X-Ray diffraction and fluorescence techniques are assuming an increasingly important analytical role in light metals analyses. Ryder and Baumgartl (167) use an energydispersive X-ray spectrometer in the electron-beam microanalysis of pure aluminum and titanium. Topor and Birhala (210) use an X-ray diffraction method for the determination and control of NaF/AlFs bath ratio in the electrolytic cells used in the production of aluminum.…”