2010
DOI: 10.1063/1.3291046
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Determination of the minority carrier diffusion length in compositionally graded Cu(In,Ga)Se2 solar cells using electron beam induced current

Abstract: A method is proposed and tested which allows for the accurate determination of the carrier collection efficiency and minority carrier diffusion length in Cu(In,Ga)Se2 solar cells using energy dependent electron beam induced current. Gallium composition gradients across the film thickness introduce quasielectric fields that are found to improve collection efficiency when they are located toward the rear of the sample. The quasielectric fields are also shown to reduce the influence of back surface recombination.… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1
1

Citation Types

2
28
0
3

Year Published

2010
2010
2023
2023

Publication Types

Select...
6
2

Relationship

1
7

Authors

Journals

citations
Cited by 69 publications
(34 citation statements)
references
References 15 publications
2
28
0
3
Order By: Relevance
“…Several classic photovoltaic semiconductors, e.g., CIGS [80], GaAs [81], c-Si [82], etc., are also included in Table 1 for comparison. It is clear that the charge transport properties of perovskite films or single crystal prepared by low temperature solution process can catch up with or even be superior to that of c-Si, CIGS and GaAs thin films prepared by very expensive and energy-intensive techniques.…”
Section: Charge Transportmentioning
confidence: 99%
“…Several classic photovoltaic semiconductors, e.g., CIGS [80], GaAs [81], c-Si [82], etc., are also included in Table 1 for comparison. It is clear that the charge transport properties of perovskite films or single crystal prepared by low temperature solution process can catch up with or even be superior to that of c-Si, CIGS and GaAs thin films prepared by very expensive and energy-intensive techniques.…”
Section: Charge Transportmentioning
confidence: 99%
“…При кімнатній температурі значення рухливості дірок найчастіше вказуються в діа-пазоні 1-30 см 2 /(В×с), а електронів -1-100 см 2 / (В×с) [5,[15][16][17]. На відміну від цього, в роботі [18] було встановлено, що рухливості електро-нів і дірок в Cu(In,Ga)Se 2 можуть бути значно нижчими за 1 см 2 /(В×с) (аж до 0,1 і навіть 0,02 см 2 /(В×с)).…”
Section: зіставлення розрахунків квантової ефективності з вимірамиunclassified
“…Час життя неосновних носіїв заряду (елек-тронів) визначає довжину дифузії L n = (t n D n ) 1/2 . Як повідомлялося ще в 1996 році [19], час життя електронів в шарах CuInSe 2 і Cu(In,Ga)Se 2 знаходиться в діапазоні від десятків пікосекунд до декількох наносекунд, що згодом неоднора-зово підтверджувалося [17,20].…”
Section: зіставлення розрахунків квантової ефективності з вимірамиunclassified
See 1 more Smart Citation
“…10 This fit provides the average collection length for the sample. This can be obtained by varying the accelerating voltage and fitting the measured EBIC quantum efficiency.…”
Section: ͑9͒mentioning
confidence: 99%