1992
DOI: 10.1016/s1474-6670(17)50211-6
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Detection of Incipient Process Faults using Approximate Parametric Models

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

1994
1994
2000
2000

Publication Types

Select...
2
1

Relationship

0
3

Authors

Journals

citations
Cited by 3 publications
(1 citation statement)
references
References 5 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…En altres sistemes poden ser necessàries les dues, la sensibilitat i la rapidesa. Aquest fet comporta el disseny de sistemes d'FDDS més complexos, cosa que requereix possiblement la redundància analítica i de maquinari, per exemple quan es treballa simultàniament amb tècniques informàtiques tolerants a fallades [66].…”
Section: Rendiment D'un Fddsunclassified
“…En altres sistemes poden ser necessàries les dues, la sensibilitat i la rapidesa. Aquest fet comporta el disseny de sistemes d'FDDS més complexos, cosa que requereix possiblement la redundància analítica i de maquinari, per exemple quan es treballa simultàniament amb tècniques informàtiques tolerants a fallades [66].…”
Section: Rendiment D'un Fddsunclassified