1984
DOI: 10.1063/1.333836
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Destruction mechanism of ZnO varistors due to high currents

Abstract: A mechanism of degradation in leakage currents through ZnO varistorsThe destruction process of ZnO varistors caused by high currents is described. When high currents were applied to ZnO varistors, two kinds of destruction modes were found: a cracking mode and a puncture mode. The puncture mode is caused by melting of the region where current concentrates. The puncture process was simulated by a computer, solving a set of heat transfer equations. The relationships among the destruction energy, uniformity of the… Show more

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“…21) However in this work, for most of the failure samples after surge current test, no cracking or puncture happen. Practically, no visual destruction happen to most of the failure samples except for some samples of system SCNCr-1.…”
Section: Resultsmentioning
confidence: 99%
“…21) However in this work, for most of the failure samples after surge current test, no cracking or puncture happen. Practically, no visual destruction happen to most of the failure samples except for some samples of system SCNCr-1.…”
Section: Resultsmentioning
confidence: 99%
“…Se estableció que para pulsos de larga duración es posible encontrar los dos tipos de falla, complementando la investigación realizada por K. Eda, 1984, quien reportó la falla típica por fisuración para pulsos de corta duración (menores de 50 µs) y falla por perforación para pulsos de larga duración (mayores a 100 µs). Las medidas Fig.…”
Section: Conclusionesunclassified
“…La microestructura de éste tipo de varistores es compleja y está compuesta por una fase principal de ZnO, granos de la fase espinela ubicados en el borde de grano, en puntos triples y eventualmente dentro de los granos de la matriz de ZnO, granos de la fase pirocloro y diferentes fases polimórficas del Bi 2 O 3 las cuales se ubican principalmente en las uniones múltiples (4). La degradación en varistores de ZnO se ha estudiado en varios niveles: macroestructural, donde se ha reportado fallas físicas tipo fisuración características de pulsos de corriente de corta duración (menores a 50 µs) y fallas tipo perforación para pulsos de corriente de larga duración (mayores a 100 µs) (5). A nivel microestructural se ha encontrado aumento en la porosidad y pequeñas variaciones en el tamaño de grano, y a escala estructural se ha observado desplazamiento de los planos atómicos debido al stress eléctrico y térmico producido durante las descargas, así como pequeñas variaciones en los parámetros de red de la fase principal (6).…”
Section: Introductionunclassified
“…(3). The fractional number of hot paths fhP in a varistor sample for a given factor n is calculated as the integral .…”
Section: Intermediate Scalementioning
confidence: 99%