2012
DOI: 10.1016/j.apradiso.2011.11.014
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Dead layer thickness characterization of an HPGe detector by measurements and Monte Carlo simulations

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“…Many researchers use radiography and point sources in combination with Monte Carlo simulations and parametric detector models to individually characterize their detectors (Britton et al 2012;Elanique et al 2012;Marzocchi, Breustedt and Urban 2010;McNamara et al 2012;Nogueira et al 2010). Particular attention to detail is paid to entrance window and dead layer of the detector crystal as slight changes in these structures have large impact on the detection of low-energy photons.…”
Section: Detectorsmentioning
confidence: 99%
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“…Many researchers use radiography and point sources in combination with Monte Carlo simulations and parametric detector models to individually characterize their detectors (Britton et al 2012;Elanique et al 2012;Marzocchi, Breustedt and Urban 2010;McNamara et al 2012;Nogueira et al 2010). Particular attention to detail is paid to entrance window and dead layer of the detector crystal as slight changes in these structures have large impact on the detection of low-energy photons.…”
Section: Detectorsmentioning
confidence: 99%
“…Detector geometries have been modelled in MCNPX syntax and are continuously optimized with respect to crystal dimensions, front dead layer and copper frame using point source measurements, radiography of the detector head, and parametric simulations (Elanique et al 2012;Marzocchi, Breustedt and Urban 2010).…”
Section: Detectorsmentioning
confidence: 99%
“…As técnicas mais comuns utilizadas para o cálculo da eficiência são a calibração utilizando fontes com atividade conhecida ou por simulação pelo método de Monte Carlo (MC) (ELANIQUE et al, 2012;SIMA et al, 2009 Na literatura tem sido reportada uma diferença entre os valores experimentais e teóricos na obtenção da eficiência de detecção. Esse fato é atribuído às informações fornecidas pelo fabricante, variações da temperatura da sala, incerteza em parâmetros físicos do detector como a camada morta, entre outros associados ao cristal de Ge (ELANIQUE et al, 2012;AGARWAL et al, 2011a;HUY, 2010).…”
Section: Sumáriounclassified
“…Esse fato é atribuído às informações fornecidas pelo fabricante, variações da temperatura da sala, incerteza em parâmetros físicos do detector como a camada morta, entre outros associados ao cristal de Ge (ELANIQUE et al, 2012;AGARWAL et al, 2011a;HUY, 2010).…”
Section: Sumáriounclassified
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