Controlled conditioning of a-Si:H thin film modules for efficiency prediction

A simple approach to model the performance of photovoltaic solar modules in operation

“…an intrinsic degradation/regeneration of the electrical properties of the semiconductor (typical of amorphous Si) promoted by exposure to light/thermal-annealing (Staebler and Wronski, 1977;del Cueto and von Roedern, 1999;Makrides et al, 2012;Nikolaeva-Dimitrova et al, 2008;Kenny et al, 2012).…”

Seasonal variations on energy yield of a‐Si, hybrid, and crystalline Si PV modules

“…In October 2005 (Figure 4a and c (top surface)) the performance is higher due to the dominant annealing effect that has occurred during the summer months. In February 2007 at winter conditions (Figure 4b), the module performance has decreased due to the dominant LS effect 22, which is the lower matrix presented in Figure 4c. The difference between the matrices at STC value is taken as the magnitude of the amplitude of the seasonal oscillations.…”

“…In order to be able to compare indoor and outdoor data at the same conditions for modules CQ01 and DU01, corrections of the outdoor data to a common condition have been made. The values of efficiency ( η ) were corrected to AM1.5 by a spectral MMF, using the dependence of MMF on air mass which is described in Section 3.1 and following the same procedure described previously 22. Note that this MMF (AM) dependence is valid only for clear sky conditions so the outdoor dataset has been filtered to including only sunny days.…”

Деградация кремниевых тонкопленочных микроморфных (alpha-Si/mu c-Si) солнечных модулей: оценка сезонной эффективности на основе данных мониторинга

“…В данный момент для оценки эффективности тонкоплeночных модулей с учeтом их деградации в процессе эксплуатации необходимо проводить перио-дические контрольные измерения на специализирован-ном оборудовании или проводить измерения прямой и диффузной составляющей солнечного излучения для оценки мощности солнечного излучения на поверхности модуля. Разработаны методы оценки будущих значений эффективности α-S/µc-Si тонкоплeночных модулей на основе экстраполяции предыдущих измерений эффек-тивности [4] и моделирования процессов светоиндуци-рованной деградации и отжига оборванных связей, на основе данных мониторинга температуры поверхности модулей и мощности солнечного излучения [5]. Одна-ко данные методы требуют установки дополнительного дорогостоящего оборудования: систем измерения эффек-тивности модулей в стандартных условиях, пираномет-ров для измерения мощности солнечного излучения.…”