2018
DOI: 10.25206/1813-8225-2018-162-169-173
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Contact resistivity measurement of silicide ohmic contacts to silicon p-type by Transmission Line Method

Abstract: Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского, г. Омск измерение УДельного Сопротивления СилициДных омичеСКих КонтАКтов К Кремнию р-типА метоДом линии переДАчи Рассмотрен способ определения удельного контактного сопротивления методом линии передачи. этот способ использован на изготовленных и измеренных силицидных омических контактах к кремнию р-типа (с номинальным удельным сопротивлением ρ=10 ом‧см) на основе систем PtAg, PdAg и NiAg. Показано, что система PtAg имеет наиболее низкие значения ρ к = … Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0

Publication Types

Select...

Relationship

0
0

Authors

Journals

citations
Cited by 0 publications
references
References 8 publications
0
0
0
Order By: Relevance

No citations

Set email alert for when this publication receives citations?