Nagrinėjama, kaip kuriama metodologija, tinkanti skaičiavimo algoritmui, kuris leistų nustatyti elektroninės sistemos šiluminius nuostolius atlikus sistemos temperatūrinio pasiskirstymo matavimą. Tyrimų objektas -elektronikos įtaisai, kurių temperatūros pasiskirstymas paviršiuje ir maksimali vertė yra labai svarbūs vartotojui. Įdiegus pasiūlytąjį algoritmą, būtų galima paprasčiau optimizuoti tiriamosios sistemos temperatūros valdymą. Algoritmas galėtų būti naudojamas pramoniniams tinklams -DC/DC, AC/DC keitikliuose. Pradžioje apžvelgiamos dabartinės galios nuostolių vertinimo tendencijos, paskui aprašoma siūloma metodologija bei testinis modelis. Pabaigoje pateikiamas skaičiavimo algoritmų siūlomai testinei sistemai rezultatų palyginimas su tikslios modeliavimo programos (COMSOL 3.5a) rezultatais. Il. 8, bibl. 4 (anglų kalba; santraukos anglų ir lietuvių k.).