“…В настоящее время выпуска-ются приборы следующих моделей: OPTOTL-ICO -60 (поле 60 мм, λ = 0,532 мкм, погрешность измерения δ ≈ 1/20 λ) [10] Для контроля плоских и сферических поверх-ностей применяются обычные коммерческие интерферометры, а для контроля асферических поверхностей (АП) они дополняются СГ [14]. Однако применение СГ имеет ряд особенностей, таких как наличие паразитных дифракционных поряд-ков (ДП), низкой дифракционной эффективности, требуемой высокой точности юстировки СГ и др.…”