2010
DOI: 10.1016/j.nimb.2009.09.059
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Color center formation in silica glass induced by high energy Fe and Xe ions

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“…Los símbolos sólidos corresponden a la serie de xii experimentos de la irradiación con iones de Br y el caso de la irradiación con iones de Fe a 1157 MeV, extraídos de la Literatura. 28 Los símbolos abiertos corresponde a las simulaciones de MD con un cilindro caliente de 3.0 y 4.5 nm para simular los iones de Br y Fe, respectivamente. .......... 72 Figura 5.4: Sección eficaz de la traza como función del poder de frenado electrónico para los resultados experimentales (símbolos sólidos) de la irradiación con Br y F obtenidos con técnicas ópticas de reflexión in situ 129 y RBS-c, además de otras publicadas en Literatura y obtenidas con RBS-c 68,102 y SAXS.…”
Section: Agradecimientosunclassified
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“…Los símbolos sólidos corresponden a la serie de xii experimentos de la irradiación con iones de Br y el caso de la irradiación con iones de Fe a 1157 MeV, extraídos de la Literatura. 28 Los símbolos abiertos corresponde a las simulaciones de MD con un cilindro caliente de 3.0 y 4.5 nm para simular los iones de Br y Fe, respectivamente. .......... 72 Figura 5.4: Sección eficaz de la traza como función del poder de frenado electrónico para los resultados experimentales (símbolos sólidos) de la irradiación con Br y F obtenidos con técnicas ópticas de reflexión in situ 129 y RBS-c, además de otras publicadas en Literatura y obtenidas con RBS-c 68,102 y SAXS.…”
Section: Agradecimientosunclassified
“…En primer lugar, encontramos que los resultados experimentales publicados en la literatura [25][26][27][28][29][30] no han sido muy sistemáticos para el caso de los materiales amorfos, debido a la dificultad adicional para caracterizar trazas de dimensiones nanométricas en estos materiales. Así, técnicas comunes en el estudio de cristales, como la retro-dispersión de Rutherford en configuración canalizada (RBS-c) o la microscopía de transmisión de electrones (TEM) no son adecuadas para estudiar las trazas en sílice.…”
Section: Introductionunclassified
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