Представлен подробный анализ результатов проникновения магнитного потока в высокотемпературные сверхпроводящие композиты второго поколения. Экспериментальные наблюдения распределения магнитного потока были проведены с помощью техники магнитооптической визуализации при различных температурах от 4.2 до 80 K. Показано совпадение экспериментальных данных с результатами аналитических и получислен-ных расчетов профилей магнитного поля, выполненного для режимов полного и неполного проникновения магнитного поля в сверхпроводящие композиты. Рассмотрена методика оценки критической плотности тока из измерений топографии поперечного магнитного потока, а также предложен метод оценки критической плотности тока лент из измерений касательной компоненты поля.
ВведениеТонкие сверхпроводящие пленки в критическом со-стоянии являются интересными объектами для исследо-ваний как с фундаментальной, так и прикладной точки зрения. Значительную актуальность таким исследовани-ям придает бурное развитие технологий создания лен-точных ВТСП композитов второго поколения (другое название СС-ленты, от английского " coated conductor"), в которых ключевым токонесущим элементом является тонкий слой высокотемпературного сверхпроводника. Такие ленты имеют высокие транспортные характери-стики. Так, в нулевом внешнем магнитном поле при температуре 77 K плотность критического тока J c пре-вышает 10 6 A/cm 2 , а при температуре 4.2 K величина J c ∼ 10 6 A/cm 2 достигается в магнитных полях порядка нескольких десятков Тесла.ВТСП ленты представляют собой структуру со слож-ной архитектурой слоев, нанесенных на гибкую ме-таллическую подложку. Непосредственно на металли-ческую подложку нанесены буферные слои, на них осажден слой ВТСП толщиной ∼ 1 µm. Сверху слой ВТСП закрыт защитными покрытиями из серебра и меди. Из-за наличия высокопроводящего защитного по-крытия для исследования токонесущих свойств лент должны использоваться бесконтактные методы. Одним из таких методов могло бы быть измерение кривых намагничивания и определение критического тока по ширине петли гистерезиса. Но данная методика требует помещения всего образца в область между измеритель-ными катушками, что невозможно для длинных лент. Другой альтернативой являются методы, основанные на измерении распределения магнитного поля вне ленты и последующем обсчете для оценки величины кри-тических токов. При этом распределение магнитного поля измеряется с помощью линейки преобразователей Холла, а измерения проводятся для длинной ленты при непрерывной перемотке с бобины на бобины [1][2][3]. Получение распределения магнитного поля в лентах с высоким пространственным разрешением может быть достигнуто использованием различных методик. Наи-более эффективными методами такого типа являются Холловская сканируюшая микроскопия [4,5] и магни-тооптическая визуализация (МОВ) [6,7]. К настоящему времени проведен ряд исследований СС-лент с приме-нением техники магнитооптической визуализации. Так, в [8,9] исследовалось распределение плотности постоян-ного и переменного транспортного тока, в работе [10] -распростран...