2024
DOI: 10.15381/rif.v27i1.28010
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Caracterización de muestras policristalinas para fines arqueológicos por cinemática de difracción de rayos X y refinamiento Rietveld

Frank Moya,
Luis Lizarraga,
Elvira Zeballos-Velásquez
et al.

Abstract: Muestras geológicas de arcilla del valle de Moche fueron investigadas con el objetivo de continuar elaborando una base de datos de arcillas que se pueda contrastar con la composición mineralógica de muestras arqueológicas. Un estudio de pigmentos blancos de mural, con fines de preservación y puesta en valor, forma parte de esta investigación. En ambos casos, el objetivo fue determinar cualitativa y cuantitativamente la composición mineralógica de los materiales, aplicando difracción de rayos X. Las medidas de … Show more

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