BYInjection of electrons into glass by tunneling from metallic tipsspecially platinum tipsis investigated in a field-emission microscope. KO current is detected a t applied voltages up to 30 kV when the thickness of glass layers is larger than a few microns. On the contrary, in the case of very thin glass coatings ( s 0.1 pm), current-voltage characteristics can be measured; a t lowest currents, the emission obeys the Fowler-Nordheim equation, while periodic current oscillations are observed a t higher currents ( i = A). Field-electron and field-ion micrographs from platinum tips whose glass coating is removed by various treatments (heating in vacuum, dissolution of glass in hydrofluoric acid) are also presented and discussed.On a examink, A l'aide de la microscopie h emission de champ, l'injection d'6lectrons dans le verre par effet tunnel & I'interface mktal-verre. Dans le cas de pointes enrob6es par des couches de verre dont 1'6paisseur est de quelques microns, aucun courant n'est d6tect6, m@me A des voltages aussi &lev&s que 30 kV. Par contre, des caractkristiques courant-tension ont ktk mesurkes dans le cas d'enrobages de verre minces ( s 0,l pm); aux faibles courants, l'kmission obkit h 1'6quation de Fowler-Nordheim, tandis que des oscillations pkriodiques de courant ont ktk observkes dans le domaine des courants plus 61ev6s (i = 10-8 A). On prksente 6galement des micrographies 6lectroniques e t ioniques de champ obtenues avec des pointes de platine dont l'enrobage de verre a k t k enlev6 par divers traitements (chauffage sous vide, dissolution du verre dans l'acide fluorhydrique).