2012
DOI: 10.1016/j.tsf.2011.10.151
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Atomic layer deposition grown composite dielectric oxides and ZnO for transparent electronic applications

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
2
1

Citation Types

1
34
0
1

Year Published

2012
2012
2023
2023

Publication Types

Select...
7

Relationship

0
7

Authors

Journals

citations
Cited by 51 publications
(36 citation statements)
references
References 22 publications
1
34
0
1
Order By: Relevance
“…Пропускання плiвок ZnO : Al було на тому ж рiвнi або трохи вище в порiвнян-нi з плiвками ZnO. Детально результати розробки АПО технологiї для отримання прозорих провiд-них плiвок ZnO i ZnO : Al та результати їх дослi-дження представленi в роботах [1,[15][16][17][18][19][20].…”
Section: технологIя нанесення I властивостI плIвок Zno I Zno : Alunclassified
“…Пропускання плiвок ZnO : Al було на тому ж рiвнi або трохи вище в порiвнян-нi з плiвками ZnO. Детально результати розробки АПО технологiї для отримання прозорих провiд-них плiвок ZnO i ZnO : Al та результати їх дослi-дження представленi в роботах [1,[15][16][17][18][19][20].…”
Section: технологIя нанесення I властивостI плIвок Zno I Zno : Alunclassified
“…For example, to apply transparent conductive electrodes in solar cells, it is necessary to get ZnO films with high conductivity (order of 10 4 Ohm·cm). Our previous investigations proved that ALD technology allows to control the films properties in a wide range via altering process parameters, in particular substrate temperature [1,[10][11]. We have determined the technological regimes for depositing the films with good structural properties [15].…”
Section: Influence Of Technological Regimes On Zno Film Propertiesmentioning
confidence: 99%
“…Furthermore, we did not observe defect related bands in the PL spectra. The surface morphology was studied by atomic force microscopy (AFM) [10]. We have found that roughness clearly depends on such parameters as growth temperature (100 to 200 ºC), thickness of the film and purging time.…”
Section: Influence Of Technological Regimes On Zno Film Propertiesmentioning
confidence: 99%
See 2 more Smart Citations