Abstract:Die mikro-interferometrisch geprüften Oberflächen der implantierten Quarz-Plättchen weisen Vertiefungen und Erhöhungen auf. Was die Mikro-Interferometrie ohnehin wahrscheinlich gemacht hat, stellen die polarisationsmikroskopischen Untersuchungen sicher: Die Quarz-Plättchen haben keine Dickenreduktionen erfahren. Die von SCHLEXTRICH nicht berücksichtigten Erhöhungen können vom Quarz sowieso nicht herrühren. Dies erhärtet die Deutung der Oberflächen-Veränderungen als von stellenweise aufgelagertem Hüllmaterial h… Show more
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