DOI: 10.12681/eadd/46663
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Anatomy of microarchitecture-level reliability assessment for modern processors

Abstract: Η ραγδαία βελτίωση της τεχνολογίας ημιαγωγών αυξάνει συνεχώς την πυκνότητα και πολυπλοκότητα των σύγχρονων επεξεργαστώ στον βωμό της υψηλής απόδοσης και λειτουργικότητας. Όμως αυτή η εξέλιξη έχει αρνητικές συνέπειες στην αξιόπιστη λειτουργία των επεξεργαστών, καθιστώντας τους πιο ευάλωτους σε παράγοντες όπως η κοσμική ακτινοβολία, κατασκευαστικά λάθη, φθορά και λειτουργία σε χαμηλή τάση. Συνεπώς, οι σύγχρονοι επεξεργαστές υποφέρουν από αυξημένους ρυθμούς σφαλμάτων και προϋποθέτουν την υιοθέτηση μηχανισμών προσ… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0

Publication Types

Select...

Relationship

0
0

Authors

Journals

citations
Cited by 0 publications
references
References 81 publications
(152 reference statements)
0
0
0
Order By: Relevance

No citations

Set email alert for when this publication receives citations?