Análisis microestructural y conductividad eléctrica del dieléctrico en conductor de Cu- Al modificado por envejecimiento artificial térmico

Abstract

Se evaluó el efecto del calor sobre el recubrimiento dieléctrico en conductor de Cu-Al con dimensiones de10x10x1.58 mm mediante la conductividad eléctrica por el método de cuatro puntas y caracterización microestructuralpor medio de microscopias óptica y electrónica de barrido. Para analizar el efecto del calor, las probetas del materialse envejecieron a 150, 200, 300 y 400*C por 24 h de forma continua. Se encontró que la conductividad mejoro con elaumento de la temperatura del envejecido, a pesar de que el dieléctrico evidentemente se degrado, es decir, conpérdida de la homogeneidad del recubrimiento conforme aumento la temperatura, lo cual podría relacionarse con elcambio microestructural de incremento en tamaño de grano alfa promedio como consecuencia del incremento entemperatura del envejecimiento acelerado. Los parámetros establecidos podrían mejorar la calidad del cobre paraaplicaciones industriales.