Abstract:Zusammenfassung Es wird ein hochgenaues Verfahren und dessen Realisierung zur Messung von Profilschnitten von ausgedehnten (bis zu 1 m großen) optischen Oberflä-chen vorgestellt. Dabei wird ein kompaktes Interferometer (Aperturdurchmesser 3 mm) über den Prüfling geführt und es werden mehrere sich überlappende Teilprofile aufgenommen. Eine zusätzliche Winkelmessung dient als Ebenheitsreferenz. Im Gegensatz zu herkömlichen "Stitching"-Verfahren ermög-licht das vorgestellte Messverfahren z. B. die Messung von Syn… Show more
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