“…A munkánk során nyilvánvalóvá vált, hogy az interferencia effektusokat pontosabban kimutathatnánk, ha (1) a spektrométereink a mérés során kisebb -de mérés közben változtatható -szögtartományt "látnának" (ellenkező esetben a nagy szögtartományban az interferencia effektusok kiátlagolódnak) és ha (2) elvégezzük a spektrumok számítógépes kiértékelését. Az előző konferencia közleményünkben bemutattuk [3] e két cél érdekében végzett munkánkat, tehát a spektrométer rendszer négy szektorra bontását, a szektorokban felvett első spektrumokat, valamint a számítógépes kiértékelésük matematikai formuláit. Jelen cikkben a kiértékelés azon eredményeit mutatjuk be, amelyeket a direkt és indirekt folyamatok interferenciáját érintik és az állapot-állapot interferencia újabb fajta mérésére történő felkészülést jelentik [4].…”