15.6 A 10MHz i-Collapse Failure Self-Prognostic GaN Power Converter with T&lt;inf&gt;J&lt;/inf&gt;-Independent In-Situ Condition Monitoring and Proactive Temperature Frequency Scaling

Chen, Yingping; Brian, D.

doi:10.1109/isscc.2019.8662527

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“…However, this technique is limited in continuous conduction mode (CCM) and the implementation of pole location is very sophisticated. Another indirect R on measurement technique is realized through an I GSS -inspired T J sensor, based on the fact that gate-leakage I GSS of a GaN device is both T J -sensitive and aging-independent (Chen & Ma, 2019a). With sensed T J , the in-situ condition monitor removes the impact of T J on R on through the T J dependence remover effectively.…”

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A High Voltage Multi-Purpose On-the-fly Reconfigurable Half-Bridge Gate Driver for GaN HEMTs in 0.18-μm HV SOI CMOS Technology

Aimaier²,

Alameh

et al. 2020

2020 18th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS)

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En raison de vitesses de commutation plus élevées, de faible résistance à l'état passant et de taille miniaturisée en comparaison avec des contreparties en silicium, l'utilisation de transistors de puissance à base de nitrure de gallium (GaN) est de plus en plus courante dans les circuits de puissances modernes. Avec des figures de mérite supérieures, les convertisseurs de puissance utilisant des dispositifs GaN peuvent fonctionner à des fréquences de commutation élevées. Cela se traduit par des dimensions plus petites, une efficacité supérieure et une réduction du coût du système. La redondance et la reconfigurabilité sont souhaitables dans les applications critiques pour la sécurité telles que les systèmes automobiles et aérospatiaux. Ces derniers fonctionnent dans des conditions difficiles nécessitant un niveau élevé de flexibilité et une grande fiabilité. Ce mémoire présente un circuit de pilotage de grille pour un tel système d'alimentation reconfigurable. Destiné à être au coeur d'un système d'alimentation haute tension (HT) programmable et flexible, le pilote de grille présenté dans ce travail est capable de commander une large gamme de dispositifs GaN de différentes tailles. Cela est accompli en ayant un mécanisme configurable de vitesse de mis-à-on et mis-à-off. Cette fonctionnalité élimine le besoin de résistances de grille discrètes. Elle permet donc des conceptions de circuits plus denses, telles que l'intégration de système dans un boîtier (SiP-system-in-package). Dans un tel système les pilotes de grille, les dispositifs GaN et d'autres circuits intégrés de commande sont placés sur le même interposeur. La vitesse configurable de mis-à-on et de mis-à-off reconfigurable permet également de réduire les interférences électromagnétiques (EMI). Cela est important dans les applications critiques pour la sécurité. Une structure uniforme d'unités de commutation en demi-pont est proposée. Cette dernière permet une reconfigurabilité du fonctionnement du système avec une variété de topologies possibles à l'aide d'un grand nombre de cellules de commutation. Le pilote de grille exige un circuit de décalage de niveau de 200 V intégré. Ce circuit utilise une technique d'annulation de bruit en mode commun, ayant fait l'objet d'une étude approfondie. En utilisant cette technique dans une technologie HT SOI (silicium sur isolant), une immunité à une variation de bruit (CMTI) de 80 V/ns est obtenue. Le pilote de grille a un temps mort configurable allant de 5 ns à 60 ns. Ce temps mort configurable minimise les pertes dues à la conduction par mécanisme de «diode de corps» des transistors GaN pendant la période de conduction en roue libre pour différents profils de charge. Toutes les configurations sont programmées à travers un registre à décalage. Le circuit de pilotage de grille a été fabriqué avec le procédé SOI de 200-V 0,18-μm (XFAB XT018). Les résultats expérimentaux montrent que la puce peut piloter les transistors GaN ciblés de la plus petite à la plus grande taille aux vitesses de mis-à-on et mis-à-off souhaitée...

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“…With sensed T J , the in-situ condition monitor removes the impact of T J on R on through the T J dependence remover effectively. This technique allows to take more proactive measures to slow down the aging process whenever possible (Chen & Ma, 2019a).…”

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