“…Разработка и обоснование реалистической модели возникновения зарядовых возбуждений и их релаксации (в любых проводниках) могут быть основаны на эмпирических закономерностях связи параметров, в частности решетки, характеризующих свойства конденсированных сред. Например, результаты, полученные для микрокристаллических и компактированных керамик, подтверждают закономерность [21], ука- зывающую на наличие связи абсолютных значений электросопротивления проводников с их ТКС, которые, в свою очередь, линейно связаны с уровнем допирования. Тот факт, что дополнение элементарной ячейки YBCO одним атомом кислорода приводит к возникновению зарядовых возбуждений, способных откликаться на внешние воздействия, и придает ему высокую проводимость и сверхпроводимость, указывает на близость приведенного в работе [29] сценария возникновения в этом соединении зарядовых возбуждений к реальным процессам.…”