2021
DOI: 10.1016/j.jmrt.2021.08.043
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Study on photoelectricity properties of SiCN thin films prepared by magnetron sputtering

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3
1

Citation Types

0
5
0
1

Year Published

2022
2022
2024
2024

Publication Types

Select...
6

Relationship

0
6

Authors

Journals

citations
Cited by 8 publications
(7 citation statements)
references
References 17 publications
0
5
0
1
Order By: Relevance
“… Growth rate dependence on MS mode and type of sputtered target. Hänninen T., et al, 2018 [ 4 ]; Pettersson M., et al, 2013 [ 5 ]; Kozak A.O., et al, 2017 [ 8 ]; Kulikovsky V., et al, 2014 [ 10 ]; Berlind T., et al, 2001 [ 12 ]; Bachar A., et al, 2018 [ 18 ]; Peng Y., et al, 2011 [ 19 ]; Saito N., et al, 1991 [ 20 ]; Li Q., et al, 2017 [ 21 ]; Sundaram K.B., et al, 2020 [ 22 ]; Li Q.et al, 2021 [ 23 ]; Hüger, E., et al, 2012 [ 25 ]; Peng Y., et al, 2018 [ 27 ]; Peng Y., et al, 2018 [ 28 ]; Peng Y., et al, 2014 [ 29 ]; Medeiros H.S., et al, 2011 [ 30 ]; Peng, Y., et al, 2010 [ 31 ]; Bhattacharyya A.S., et al, 2009 [ 32 ]; Bhattacharyya A.S., et al, 2009 [ 33 ]; Fraga M.A., et al, 2008 [ 34 ]; Mishra S.K., et al, 2007 [ 35 ]; Du X.-W., et al, 2007 [ 36 ]; Wei J., et al, 2000 [ 37 ]; Xiao X., et al, 2000 [ 38 ]; Lutz H, et al, 1998 [ 39 ]; Scharf T.W., et al, 1997 [ 40 ]. …”
Section: Figurementioning
confidence: 99%
See 3 more Smart Citations
“… Growth rate dependence on MS mode and type of sputtered target. Hänninen T., et al, 2018 [ 4 ]; Pettersson M., et al, 2013 [ 5 ]; Kozak A.O., et al, 2017 [ 8 ]; Kulikovsky V., et al, 2014 [ 10 ]; Berlind T., et al, 2001 [ 12 ]; Bachar A., et al, 2018 [ 18 ]; Peng Y., et al, 2011 [ 19 ]; Saito N., et al, 1991 [ 20 ]; Li Q., et al, 2017 [ 21 ]; Sundaram K.B., et al, 2020 [ 22 ]; Li Q.et al, 2021 [ 23 ]; Hüger, E., et al, 2012 [ 25 ]; Peng Y., et al, 2018 [ 27 ]; Peng Y., et al, 2018 [ 28 ]; Peng Y., et al, 2014 [ 29 ]; Medeiros H.S., et al, 2011 [ 30 ]; Peng, Y., et al, 2010 [ 31 ]; Bhattacharyya A.S., et al, 2009 [ 32 ]; Bhattacharyya A.S., et al, 2009 [ 33 ]; Fraga M.A., et al, 2008 [ 34 ]; Mishra S.K., et al, 2007 [ 35 ]; Du X.-W., et al, 2007 [ 36 ]; Wei J., et al, 2000 [ 37 ]; Xiao X., et al, 2000 [ 38 ]; Lutz H, et al, 1998 [ 39 ]; Scharf T.W., et al, 1997 [ 40 ]. …”
Section: Figurementioning
confidence: 99%
“…Owing to their multifaceted properties, silicon carbonitrides SiC x N y [ 1 , 2 , 3 ] are modern multifunctional materials with a wide range of applications. SiC x N y exhibits a combination of tribo-mechanical (high hardness [ 4 , 5 , 6 , 7 , 8 , 9 , 10 , 11 , 12 , 13 , 14 , 15 , 16 , 17 ], wear resistance [ 6 , 7 ], low coefficient of friction [ 6 ], high adhesion to construction materials [ 6 ]), chemical (high thermal and corrosion resistance [ 1 , 7 , 10 ]), and physical (low dielectric constant [ 1 ], controlled in a wide range of values of refractive index [ 18 ] and optical band gap [ 18 , 19 , 20 , 21 ], high optical transparency in a wide spectral range [ 19 , 21 , 22 , 23 ], high hydrophobicity [ 24 ]) properties. Due to the variable composition of the compound, it is possible to change the values of the conductivity, the hardness, and Young’s modulus.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
See 2 more Smart Citations
“…нагружения, а также величина напряжения в тонких пленках[1].Популярность тонких пленок Si−C−N объясняется их устойчивостью к окислению, химической инертностью, пьезоэлектрическими свойствами и способностью поглощать СВЧ-излучение. Эти пленки все более широко применяются в системах Н/МЭМС, в запоминающих устройствах, при компоновке электронных схем, в оптоэлектронных устройствах и в СВЧ-поглотителях[2][3][4][5][6][7][8][9][10][11]. В пленках Si−C−N образуются нанокристаллические фазы SiC, Si 3 N 4 и CN x[12].Исследование методом скользящей индентации, или склерометрическое испытание, проводилось с помощью индентора Берковича, входящего в состав наноинден-Энергодисперсионные спектры области царапины (а) и области с покрытием (b).тационного оборудования MTS (США).…”
unclassified