volume 23, issue 1, P113-126 1967
DOI: 10.1002/pssb.19670230109
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Abstract: Der elektronenmikroskopische Beugungskontrast von spharischen Einschlussen nalie einer kraftefreien Folienoberflache wird berechnet und mit Hilfe der Theorie der modifizierten Bloch-Wellen kritisch diskutiert. Es wird gezeigt, daB der sogcnannte Schwarz-U'eilJKontrast (S-W-Kontrast) auf zwei Ursachen beruht : ,,Interbandstreuung" zwischen den niodifizierten Bloch-Wellen und ,,Randbedingungen", denen die Elektronenwellen an den Folienoberflachengeniigen miissen. I n Ubereinstimmung mit McIntyre und Brown [12] …

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