Caracterização de um dispositivo de ensaio para determinação da camada semiredutora e da filtração com equivalência de qualidade de acordo com a norma ABNT NBR IEC 60601-1-3

Abstract

PotiensAo amigo Márcio Bottaro, chefe da STEEE, grande incentivador deste trabalho.Ao amigo Iremar Alves, pela amizade e troca de informações durante toda a jornada deste mestrado.A Fernanda Cristina Salvador Soares pela troca de informações relacionadas à portaria 453, que abordam o controle de qualidade em equipamentos de raios X.A bolsista da FINEP Marina Batalim pelo auxilio na realização das medições utilizadas neste trabalho.Amigo e bolsista do SIBRATEC Danilo Cabral Rosendo pelo auxilio na confecção da placa de circuito impresso. À Ana Cláudia de Azevedo Alcântara pelo companheirismo e trocas de informações.Elaine Aparecida Ferreira Benetti pelo auxilio na revisão do texto e da formatação da dissertação.Ao Mauricio Landi da oficina mecânica do IEE/USP pela confecção do suporte mecânico dos drives de CD.Ao amigo Edson Pereira Barbosa pelo auxilio na montagem do dispositivo que foi desenvolvido. Ao amigo Paulo Lucas Dantas Filho do IEE/USP que viabilizou a doação dos drives de CD utilizados no trabalho.Ao Sr. Leonardo Calixto Antunes da empresa Philips Medical do Brasil, que viabilizou a doação do gerador de raios X modelo Pulsar Plus, parte integrante do dispositivo desenvolvido neste trabalho.Ao Dr. Marco A. G. Pereira, chefe da STDTS, que disponibilizou o equipamento de raios X industrial da Philips, utilizado como referência neste trabalho.A equipe da CPG do IPEN pelo suporte sempre com grande cordialidade.Aos funcionários do IEE/USP que de forma direta ou indireta colaboraram com este trabalho.A Financiadora de Estudos e Projetos (FINEP), pelo aporte dos recursos relacionados ao projeto SELER, cujos equipamentos adquiridos foram utilizados neste trabalho.A minha esposa Adriana e meus filhos Natalia e João Vitor pelo apoio, incentivo, paciência, pois, sacrificaram o tempo precioso da nossa convivência familiar para eu pudesse realizar este trabalho.A minha família que sempre acreditou que eu pudesse chegar até aqui, especialmente a minha mãe Maria José que, ante as dificuldades impostas pela vida, nunca esmoreceu em nos conduzir, eu e meus irmãos Vânia e Vandré, no caminho dos estudos e do bem. A meu pai Nelson (In Memoriam) que, apesar da pouca convivência, deixou ensinamentos essenciais para a minha vida terrena: o caráter, a integridade, a honestidade, a responsabilidade e o compromisso com as pessoas e com o trabalho.Agradeço a Deus e a meu mentor espiritual por sempre terem me dado todas as oportunidades de evolução, por menor que tenha sido o meu aproveitamento delas. [2] . A finalidade dos ensaios é determinar a camada semirredutora -CSR (Half Value Layer -HVL) e a filtração com equivalência de qualidade, em mmAl, dos materiais que interceptam o feixe de raios X desde a sua emissão até o dispositivo receptor de imagem de raios X.Esta filtração inclui os materiais presentes no conjunto fonte de radiação X, formado pela cúpula de proteção radiológica com o tubo de raios X inserido, pelo sistema de colimação (filtração inerente) e pelos materiais presentes nos suportes de pacientes, como mesa e buc...